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フルテキストURLDT12100729_Abstract.pdf ( 5.0MB ) 公開日 2017-12-01
DT12100729_FullText.pdf ( 34.1MB ) 公開日 2018-09-01
タイトル電子顕微鏡を用いたGaN層中の欠陥構造に関する研究
タイトルヨミデンシ ケンビキョウ オ モチイタ GaN ソウチュウ ノ ケッカン コウゾウ ニ カンスル ケンキュウ
タイトル別表記Study of defect structure in GaN layer using electron microscopy
作成者松原, 徹
作成者ヨミマツバラ, トオル
作成者所属山口大学大学院理工学研究科
学位論文博士(工学)
本文言語jpn
資料タイプtext
ファイル形式application/pdf
NII資料タイプ学位論文
発行日2017
著者版/出版社版学位論文本文あり
リポジトリIDDT12100729
地域区分山口大学
学位授与番号理工博甲第729号
学位授与年月日2017-09-29
学位名博士(工学)
学位授与機関山口大学
URIhttp://www.lib.yamaguchi-u.ac.jp/yunoca/handle/DT12100729