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Reliability assessment based on hazard rate model for an embedded OSS porting-phase
作成者 : Tamura, Yoshinobu / Yamada, Shigeru 掲載誌名 : Software testing, verification & reliability 巻 : 23 号 : 1 開始ページ : 77 終了ページ : 88 発行日 : 2013-01 リポジトリID : 2012011169
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