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RF-MBE法によるGaN薄膜の成長と光学的評価
作成者 : 福田, 大祐 / 河辺, 章 / 杉田, 泰一 / 岡田, 清彦 / 山田, 陽一 / 田口, 常正 掲載誌名 : 山口大学工学部研究報告 巻 : 48 号 : 1 開始ページ : 89 終了ページ : 93 発行日 : 1997-10 リポジトリID : KJ00000157108
アクセス件数 : 552 件 ダウンロード件数 : 535 件

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