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Characterization of structural defects in semipolar {202^-1} GaN layers grown on {224^-3} patterned sapphire substrates
作成者 :
Yamane, Keisuke / Inagaki, Takashi / Hashimoto, Yasuhiro / Koyama, Masakazu / Okada, Narihito / Tadatomo, Kazuyuki
掲載誌名 :
Japanese Journal of Applied Physics
巻 :
53
号 :
3
開始ページ :
035502
終了ページ :
発行日 :
2014-03
リポジトリID :
2014010462
アクセス件数 :
530 件
ダウンロード件数 :
0 件
[1]