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タイトルCorrelation between in-plane strain and optical polarization of Si-doped AlGaN epitaxial layers as a function of Al content and Si concentration
作成者Kurai, Satoshi
Shimomura, Kazuhide
Murotani, Hideaki
Yamada, Yoichi
Miyake, Hideto
Hiramatsu, Kazumasa
作成者ヨミクライ, サトシ
シモムラ, カズヒデ
ムロタニ, ヒデアキ
ヤマダ, ヨウイチ
ミヤケ, ヒデト
ヒラマツ, カズマサ
作成者別表記倉井, 聡
山田, 陽一
作成者所属山口大学大学院理工学研究科(工学)
本文言語eng
資料タイプtext
出版者American Institute of Physics
NII資料タイプ学術雑誌論文
ISSN0021-8979
1089-7550
NCIDAA00693547
AA11868165
掲載誌名Journal of applied physics
112
3
開始ページ033512
発行日2012-08
DOIinfo:doi/10.1063/1.4743016
関連情報URL(IsPartOf)http://scitation.aip.org/japo/
著者版/出版社版その他
備考[ページ]の”033512”は論文番号
リポジトリID2012010687
地域区分山口大学
URIhttp://www.lib.yamaguchi-u.ac.jp/yunoca/handle/2012010687