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フルテキストURLKJ00000199273.pdf ( 739.1KB ) 公開日 2010-04-19
タイトル<研究報告>低温高圧下における単結晶X線回折実験技術の開発と適用
タイトル別表記Single Crystal X-ray Diffraction Measurements at High Pressure and Low Temperature
作成者朝日, 孝尚
守分, 聡史
河村, 幸彦
長谷部, 勝彦
作成者ヨミアサヒ, タカナオ
モリワケ, サトシ
カワムラ, ユキヒコ
ハセベ, カツヒコ
作成者別表記Asahi, Takanao
Moriwake, Satoshi
Kawamura, Yukihiko
Hasebe, Katsuhiko
作成者所属山口大学機器分析センター
内容記述(抄録等)We have been developing experimental and data analysis techniques for single crystal X-ray diffraction measurements at high pressure and low temperature using 18kW X-ray generator, off-center type four-circle goniometer, He-gas cryostat and diamond anvil cell. Results for CsH_2PO_4,which has pressure-induced antiferroelectric phase below 125K and above 0.33GPa, are presented.
本文言語jpn
資料タイプtext
ファイル形式application/pdf
出版者山口大学機器分析センター
出版者ヨミヤマグチ ダイガク キキ ブンセキ センター
NII資料タイプ紀要論文
NCIDAN1046804X
学内刊行物(紀要等)山口大学機器分析センター報告
掲載誌名山口大学機器分析センター報告
掲載誌名別表記Center of Instrumental Analysis, Yamaguchi University
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開始ページ6
終了ページ11
発行日2002
著者版/出版社版出版社版
備考本文データは国立情報学研究所において電子化したものである
リポジトリIDKJ00000199273
地域区分山口大学
URIhttp://www.lib.yamaguchi-u.ac.jp/yunoca/handle/KJ00000199273